こんにちはゲストさん。会員登録(無料)して質問・回答してみよう!

締切り済みの質問

STM走査トンネル顕微鏡(sample biasと占有状態)

STM・STSに関する質問です。
2つ疑問点があります。

(1)左側にtip、右側にsampleのフェルミ準位や仕事関数の書いてあるバンド図のような絵をよく見ますが、
なぜ、正のsample biasの時にsampleのフェルミ準位が下がる図になるのでしょうか?

(2)負のsample biasでSTSのI-V(またはdI/dV-V)特性を調べる場合、電流はsampleのフェルミ準位近傍の占有状態から流れるので、
いくらsample biasを変えたとしても、sampleの占有状態は(フェルミ準位近傍しか)分からないように思うのですが、どうでしょうか?

よろしくお願いします。

投稿日時 - 2008-07-14 00:00:14

QNo.4174705

すぐに回答ほしいです

このQ&Aは役に立ちましたか?

1人が「このQ&Aが役に立った」と投票しています

回答(1)

ANo.1

(1)
電子の感じるポテンシャルは、電荷×電位で与えられて、電子の電荷は負なのだから、sampleにpositive biasをかけたら、sample側のポテンシャルが下がりますよね。

(2)
違います。
負のsample biasをかけた場合には、sample側の電子のうち、tipのフェルミ準位より上にある電子全てがトンネルします。

投稿日時 - 2008-07-14 00:55:48

あなたにオススメの質問